「センサ/IoT/AI 技術展2024」に出展いたしました

展示会出展のご報告

2024年8月30日（金）に、大阪産業創造館で開催された「センサ/IoT/AI 技術展2024」に出展いたしました。
本展示商談会では製造業のDXを加速すべく、センシング、制御・通信技術、IoT機器やシステム、AIなどの技術を有する企業が数多く出展しておりました。
今回弊社は、「一品一様のDXシステムで現場作業を省力化！」をキャッチコピーに、【異常検知　AI外観検査ソフトウェア】を展示いたしました。

 　　

展示会当日まで台風接近の可能性もあり、出展を取りやめられた企業もいくつか見られました。
そのような状況で来場者が少ないのではないかと不安もありましたが、結果としては展示会全体で600名以上のご来場者があり大盛況となりました！
出展した、AIに良品データを学習させて不良品を自動的に検出する本ソフトウェアは、良品と比較して違いがある箇所をオレンジ色に表示する「ヒートマップ機能」があり、その「違い」を数値化することで良品／不良品の判定を行います。
当日は、サンプルとしてペットボトルのキャップを使用し、多くの方にデモをご覧いただきました。
ご来場のお客様から直接お話を聞いたところ、外観検査だけでなく、自動化、見える化など多種多様なお悩み、
課題をお持ちの方が多く、それらをDXで解決したいと思われてご来場されている方が大半でした。
今こそDX需要が高まっているように感じました。

弊社は今後も、課題解決のパートナーとして、お客様に寄り添ったDX、自動化、省力化など、各種リューション提案ができるように努めてまいります。

ご来場いただきました皆様、ありがとうございました。

　　　　　　　　　　　　ブース対応の様子

出展製品・ご案内した製品情報

■ 異常検知　AI外観検査ソフトウェア ■
＜良品のみで学習でき、異常箇所もすぐに分かる！＞
不良品がなかなか出にくい製品の検査に最適！
ヒストグラムと図表により閾値の設定が一目で分かります。
 熟練検査員不足の解消、品質の担保・向上にピッタリです。
 https://www.e-cew.co.jp/products/ai_visual_inspection_software3/