เครื่องวิเคราะห์จุดเสียหายขนาดเล็ก Touch Panel Electrode Inspection Device


เครื่องวิเคราะห์จุดเสียหายขนาดเล็ก


ด้วยกำลังขยายที่ 1.8μm ทำให้สามารถตรวจสอบได้ด้วยความเร็วสูง ไม่ว่าจะเป็นอิเล็คโทรดในทัชพาแนล รอยแผลบนพื้นผิวของแผงวงจร หรือวัตถุแปลกปลอมขนาดเล็ก


เอกสาร


จุดเด่น

  1. บันทึกรูปที่ได้รับการตรวจโดยอัตโนมัติ

  2. ใช้กล้อง 90,000,000 พิกเซล

  3. ด้วยเลนส์ความละเอียดสูง แสดงให้เห็นแม้วัตถุที่เล็กที่สุด

  4. สามารถตรวจสอบส่วนที่ขาดหายของวงจรได้อย่างเหมาะสม

การใช้งาน

  1. ตรวจหาจุดเสียหายของขั้ววงจรในทัชพาเนล

  2. ตรวจหาสิ่งแปลกปลอมและรอยแผลบนพื้นผิววัตถุ

  3. ตรวจหาส่วนเสียหายในวงจรไฟฟ้า
ขนาด 1000×1200×1080㎜
น้ำหนัก 400㎏
ขอบเขตที่สามารถวัดได้ 600×400㎜
ความสูงของตัวอย่าง 30㎜
ความละเอียด 1.8μm
ความละเอียดควบคุม 1.0μm
ความแม่นยำในการวัดซ้ำ ±5μm
กำลังขยายเลนส์ 2เท่า
ระยะการมอง 6.3㎜×5.0㎜
หน้าจอ TFT23.6แบบจอกว้าง
ความละเอียดหน้าจอ : 1920×1080 พิกเซล
กล้อง กล้อง CCD ขาวดำ 1 นิ้ว
90,000,000 พิกเซล
เลนส์ Telecentric Lens
WD:65㎜
ความชัดลึก 0.095㎜
แสง Coaxial epi-illumination
กำลังไฟฟ้า AC100V 50/60Hz
ภาษาที่ใช้พัฒนา LabVIEW